B2902B

372-B2902B
B2902B

Fabricante:

Descripción:
Unidades de medida de fuentes - SMU Precision Source/Measure Unit, 2ch, 100fA resolution, 210V, 3A DC/10.5A pulse

Ciclo de vida:
Obsoleto
Hoja de datos:
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Disponibilidad

Existencias:

Atributo del producto Valor de atributo Seleccionar atributo
Keysight
Categoría de producto: Unidades de medida de fuentes - SMU
Restricciones de envío:
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RoHS:  
210 V
10 nF to 50 uF
0.015 %
Voltaje de suministro de CA: 90 V to 264 V
Marca: Keysight
Tipo de cable: USB
Régimen de corriente: 3 A
Altura – en mm.: 180 mm
Largo – en mm: 480 mm
Producto: Source Measure Units
Tipo de producto: Source Measure Units - SMUs
Serie: B2900B
Cantidad de empaque de fábrica: 1
Subcategoría: Test Equipment
Tipo: Precision Source Measure Unit
Ancho – en mm: 260 mm
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Atributos seleccionados: 0

Hoja de datos

Códigos de cumplimiento
USHTS:
9030390100
ECCN:
EAR99
Clasificaciones de origen
País de origen:
Malasia
País de origen del ensamblaje:
No disponible
País de difusión:
No disponible
El país está sujeto a cambios en el momento del envío.

B2900B/B2900BL Precision Source/Measure Units

Keysight B2900B/B2900BL Precision Source/Measure Units (SMUs) are compact and cost-effective benchtop SMUs with the capacity to source and measure both voltage and current. The B2900B/B2900BL units feature a maximum voltage of ±210V, a maximum current of ±3A DC, and ±10.5A pulsed sourcing capabilities. These capabilities make the devices ideal for a wide variety of IV (current versus voltage) measurement tasks that require both high resolution and accuracy. With a precision minimum of 10fA/100nV sourcing and measuring resolution, a color LCD graphical user interface (GUI) and several task-based viewing modes will improve your productivity for test, debug, and characterization. The Keysight SMUs offer superior measurement throughput and support conventional SMU SCPI commands for easy test code migration. These features improve efficiency and lower the cost of ownership when integrating the SMUs into systems for production testing.

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