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MTE1302N1

Name: Marktech Optoelectronics MTE1302N1
Brand: Marktech Optoelectronics
SKU: 193-MTE1302N1
Price: 20.86 USD
Availability: InStock

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Mouser N.º:

193-MTE1302N1

Fabricante N.º:

MTE1302N1

Fabricante:

Marktech Optoelectronics

Descripción:

Emisores infrarrojos 1300nm SWIR Emitter 5mm Plastic Domed Lens

Ciclo de vida:

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Hoja de datos:

MTE1302N1 Hoja de datos (PDF)

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	$20.86	$20.86
	$16.56	$165.60
	$14.06	$1,406.00
	$12.98	$6,490.00
1,000	Presupuesto

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Marktech Optoelectronics
Categoría de producto:	Emisores infrarrojos
RoHS:
Estilo de montaje:	Through Hole
Longitud de onda:	1300 nm
If - Corriente directa:	50 mA
Vf - Tensión directa:	1.12 V
Temperatura de trabajo mínima:	- 40 C
Temperatura de trabajo máxima:	+ 85 C
Marca:	Marktech Optoelectronics
País de ensamblaje:	Not Available
País de difusión:	Not Available
País de origen:	US
Forma de lentes:	Dome
Tipo de producto:	IR Emitters (IR LEDs)
Serie:	SWIR
Cantidad de empaque de fábrica:	1
Subcategoría:	Infrared Data Communications
Nombre comercial:	SWIR Emitter
Ángulo de visualización:	26 deg

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CAHTS:: 8541410000
USHTS:: 8541410000
JPHTS:: 854141000
TARIC:: 8541410000
MXHTS:: 8541410100
ECCN:: EAR99

Short Wavelength Infrared Emitters

Marktech Optoelectronics Short Wavelength Infrared (SWIR) Emitters include both through-hole and surface-mount packages with wavelengths ranging from 1020nm to 1900nm. The SWIR emitters operate from 20mA to 350mA current range and are designed for high-power applications. These emitters consist of a high-output infrared die in a water-clear, 5mm plastic-molded package. Marktech Optoelectronics SWIR emitters offer high-speed light emission across spectral ranges not easily detected by standard detectors and are ideal for material and chemical analysis. Typical applications include optical switches, optical sensors, fiber-optic communication, biofluorescence and blood chemistry analysis, night vision, safety equipment, currency validation, fiber optics, and inspection systems.